인텔® Optane™ SSD DC P5800X 시리즈
사양
인텔® 제품 비교
주요 정보
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제품 컬렉션
인텔® Optane™ DC SSD 시리즈
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코드 이름
이전 제품명 Alder Stream
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용량
3.2 TB
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상태
Launched
-
출시일
Q4'21
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성능 사양
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임의 지연 시간 - 읽기(최대)
5 µs
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임의 지연 시간 - 쓰기(최대)
6 µs
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순차 읽기(최대)
7200 MB/s
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순차 쓰기(최대)
6350 MB/s
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랜덤 읽기(100% 스팬)
1500000
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랜덤 쓰기(100% 스팬)
1500000
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지연 - 읽기
5 µs
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지연 - 쓰기
6 µs
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전력 - 활성
25W
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전력 - 유휴
6.3W
안정성
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진동 - 작동
2.17 Grms, (5-700 Hz), random
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진동 - 비작동
3.13 Grms (5-800 Hz), random
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충격(작동 및 비작동)
1,000 G, 0.5 ms, half sine
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작동 온도 범위
0°C to 70°C
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최대 작동 온도
70 °C
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최소 작동 온도
0 °C
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내구성 평가(수명 기록)
100 DWPD
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평균 무고장 시간(MTBF)
2 Million Hours
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수정 불능 비트 오류율(UBER)
< 1 sector per 10^17 bits read
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보증 기간
5 yrs
고급 기술
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향상된 전력 손실 데이터 보호
예
-
하드웨어 암호화
AES 256 bit
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High Endurance Technology(HET)
예
-
온도 모니터링 및 로깅
예
-
엔드-투-엔드 데이터 보호
예
주문 및 규정 준수
드라이버 및 소프트웨어
설명
유형
더 보기
OS
버전
날짜
모두
자세한 내용 보기
다운로드
다음에 대한 결과를 찾을 수 없음:
Y
/apps/intel/arksuite/template/arkProductPageTemplate
지원
출시일
제품이 처음 도입된 날짜.
순차 읽기(최대)
순차적으로 연속된 하나의 데이터 블록에서 장치가 데이터를 읽어올 수 있는 속도를 나타냅니다. 측정 단위는 MB/s(초당 메가바이트)입니다.
순차 쓰기(최대)
순차적으로 연속된 하나의 데이터 블록에 장치가 데이터를 기록할 수 있는 속도를 나타냅니다. 측정 단위는 MB/s(초당 메가바이트)입니다.
랜덤 읽기(100% 스팬)
드라이브 전체에 걸쳐 있는 메모리 내의 임의 위치에서 SSD가 데이터를 읽어올 수 있는 속도를 나타냅니다. 측정 단위는 IOPS(초당 I/O)입니다.
랜덤 쓰기(100% 스팬)
드라이브 전체에 걸쳐 있는 메모리 내의 임의 위치에 SSD가 데이터를 기록할 수 있는 속도를 나타냅니다. 측정 단위는 IOPS(초당 I/O)입니다.
지연 - 읽기
읽기 지연 시간은 데이터 검색 작업을 실행하는데 걸리는 소요 시간을 나타냅니다. 측정 단위는 마이크로초입니다.
지연 - 쓰기
쓰기 지연 시간은 데이터 기록 작업을 실행하는데 걸리는 소요 시간을 나타냅니다. 측정 단위는 마이크로초입니다.
전력 - 활성
활성 전력은 장치가 작동 중일 때 일반적으로 소비되는 전력입니다.
전력 - 유휴
유휴 전력은 장치가 유휴 상태일 때 일반적으로 소비되는 전력입니다.
진동 - 작동
작동 시 진동은 SSD가 작동 상태에서 지정된 진동에 영향을 받지 않고 작동을 지속할 수 있는지 테스트한 SSD의 성능을 나타냅니다. 측정 단위는 G-force RMS(Root Mean Square)입니다.
진동 - 비작동
비작동 시 진동은 SSD가 비작동 상태에서 지정된 진동에 영향을 받지 않고 작동을 지속할 수 있는지 테스트한 SSD의 성능을 나타냅니다. 측정 단위는 G-force RMS(Root Mean Square)입니다.
충격(작동 및 비작동)
충격은 SSD가 작동 시와 비작동 시 모두 지정된 충격에 영향을 받지 않고 작동을 지속할 수 있도록 SSD를 테스트하는 기능을 나타냅니다. 측정 단위는 G-force(최대)입니다.
최대 작동 온도
온도 센서에서 보고하는 최대 작동 온도입니다. 순간 온도는 짧은 기간 동안 이 값을 초과할 수 있습니다. 참고: 최대 관찰 가능 온도는 시스템 공급업체에서 구성할 수 있으며 설계에 따라 다를 수 있습니다.
내구성 평가(수명 기록)
내구성 평가는 장치의 수명에 따른 예상 데이터 저장 주기를 평가하는 것입니다.
평균 무고장 시간(MTBF)
평균 무고장 시간(MTBF)은 고장이 난 뒤 다음 고장이 일어날 때까지의 평균적 시간을 나타냅니다. 측정 단위는 시간입니다.
수정 불능 비트 오류율(UBER)
수정 불능 비트 오류율(UBER)은 수정 불능한 비트 오류 수를 테스트하는 시간 동안 전송된 전체 비트 수로 나눈 값을 나타냅니다.
보증 기간
이 제품의 보증 문서는 https://supporttickets.intel.com/s/warrantyinfo?language=ko에서 확인할 수 있습니다.
폼 팩터
폼 팩터는 업계 표준의 장치 크기와 형태를 나타냅니다.
인터페이스
인터페이스는 장치에서 사용되는 업계 표준 버스 통신 방식입니다.
향상된 전력 손실 데이터 보호
향상된 전원 손실 데이터 보호 기술은 임시 버퍼로의 데이터 전환을 최소화하여 예기치 않게 시스템이 정전되는 경우에도 SSD가 작동될 수 있도록 대비하며, 온보드 전원 손실 보호용 정전용량을 사용하여 데이터를 전송 버퍼와 기타 임시 버퍼에서 NAND로 이동할 수 있도록 SSD 펌웨어에 충분한 에너지를 공급함으로써 시스템 및 사용자 데이터를 안전하게 보호합니다.
하드웨어 암호화
하드웨어 암호화란 드라이브 수준에서 수행되는 데이터 암호화로, 드라이브에 저장된 데이터를 원치 않는 침입으로부터 보호하기 위해 사용됩니다.
High Endurance Technology(HET)
SSD의 HET(고내구성 기술)는 인텔® NAND 플래시 메모리 실리콘의 장점과 SSD 시스템 관리 기술을 결합하여 SSD의 내구성을 높여 줍니다. 내구성은 SSD 수명 동안 SSD에 기록할 수 있는 데이터 양으로 정의됩니다.
온도 모니터링 및 로깅
온도 모니터링 및 로깅 기능은 내부 온도 센서를 사용하여 공기 유량 및 장치 내부 온도를 모니터링하고 기록합니다. 로깅 결과는 SMART 명령을 사용하여 액세스할 수 있습니다.
엔드-투-엔드 데이터 보호
엔드-투-엔드 데이터 보호 기능을 통해 컴퓨터에서 SSD로 옮기거나 다시 가져오는 저장된 데이터의 무결성을 보장합니다.
제공된 모든 정보는 언제든 예고 없이 변경될 수 있습니다. 인텔은 언제든지 예고 없이 제조 라이프 사이클 및 사양과 제품 설명을 변경할 수 있습니다. 이곳의 정보는 "있는 그대로" 제공되며 인텔에서는 정보의 정확성과 제품 기능, 가용성, 작동 여부 또는 나열된 제품의 호환성 등에 관한 어떠한 표현이나 보증도 하지 않습니다. 특정 제품이나 시스템에 대한 자세한 정보는 시스템 공급업체에 문의하십시오.
인텔 분류는 일반, 교육 및 계획의 목적일 뿐이며, ECCN(수출 통제 분류 번호)와 HTS(미국 관세분류체계) 번호로 구성됩니다. 인텔 분류에 따른 모든 사용은 인텔에게 상환 청구하지 않으며 해당 ECCN 또는 HTS에 대한 대리 또는 보증으로 해석해서는 안됩니다. 수입업체 및/또는 수출업체는 거래의 정확한 분류를 판단할 책임이 있습니다.
제품 속성 및 기능에 대한 공식적인 정의는 데이터시트를 참조하십시오.
‡ 이 기능을 모든 컴퓨팅 시스템에서 사용할 수 있는 것은 아닙니다. 공급업체에 문의하여 시스템이 기능을 제공하는지 확인하거나 시스템 사양(마더보드, 프로세서, 칩셋, 전원 공급, HDD, 그래픽 컨트롤러, BIOS, 드라이버, 가상 머신 모니터(VMM), 플랫폼 소프트웨어 및 운영 체제)을 참조하여 기능 호환성을 확인하십시오. 기능, 성능 또는 기타 장점은 시스템 구성에 따라 달라집니다.
“알림” SKU는 제공되지 않습니다. 시장 공급 상황은 제품 출시일을 참고하십시오.